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74HC00 Verzögerungszeiten

Sie benutzen das Oszilloskop und den Funktionsgenerator um die Verzögerungszeiten der NAND Gatter des 74HC00 zu messen. Zurück zur Themenübersicht

Aufgabenstellung

Im letzten Versuch haben Sie die statischen Eigenschaften des 74HC00 Gatter vermessen. Jetzt vermessen Sie die dynamischen Eingeschaften, d.h. die Verzögerungszeiten.

Vorbereitung

Beantworten Sie anhand des Datenblatts des 74HC00 Bausteins aus T1 folgende Fragen

  1. Wie ist die Verzögerungszeit (Propagationdelay) definiert? Erläutern Sie die Verzögerungszeit mit einer Skizze.
  2. Wie ist die Anstiegs- und die Abfallzeit (Transitiontime) definiert? Erläutern Sie die Transitiontime mit einer Skizze
  3. Welche Verzögerungszeit für ein NAND Gatter erwarten Sie für eine Betriebsspannung von 4,5V?
  4. Wie hängt die Verzögerungszeit von der Betriebsspannung und der Temperatur ab?
  5. Welche Verzögerungszeit erwarten Sie für eine Kettenschaltung von vier NAND Gattern, die als Inverter betrieben werden?

Beantworten Sie die Fragen auf dem Vorbereitungsblatt Verzögerungszeiten und bringen Sie das Blatt in Papier oder elektronisch mit.

Labor

Sie benötigen

Einführung Labortechnik

Die Messungen werden in mehreren Laboren parallel durchgeführt. Da es nicht möglich ist, jedes Labor mit der exakt gleichen Messtechnik auszustatten, sind von den anderen Laboren abweichende Anweisungen für das Labor Nachrichtentechnik E6.01 in eckige Klammern [xxx] gefasst.

Einführung Oszilloskop

Mit dem Oszilloskop können Sie den zeitlichen Verlauf von Signalen darstellen. DasBenutzerhandbuch für das Agilent (Keysight) MSO-X-4034A [ Rohde&Schwarz RTM3000 ] erläutert die Bedienung.

Starten Sie das Oszilloskop und schließen Sie eine Analogprobe an. Am Scope wird ein Testsignal “Demo2” [“Demo”] ausgegeben. Messen Sie das Testsignal “Demo2” [“Demo”] mit der Probe und stellen Sie das Signal auf dem Scope dar. Gehen Sie dazu so vor, wie im Handbuch des Oszilloskops beschrieben. [R&S Menu - Apps - Demo - 10“ Display]

Für die Dokumentation der Messungen können Sie Bilder vom Webserver des Oszilloskops herunterladen. Die IP Adresse des Webservers finden sie unter Tools→Utility→I/O. Der Webserver des Oszilloskops lässt sich nur vom Laborrechner erreichen.

Einführung Funktionsgenerator

Mit dem Funktionsgenerator HMF2550 [integrierten Funktionsgenerator im RTM3000 Scope] können periodische Signale wie Rechteck- oder Sinussignale erzeugt werden. Im Handbuch des Funktionsgenerators HMF2550 [ siehe RTM3000 ] ist die Funktion beschrieben.

Starten Sie den Funktionsgenerator HMF2550 [im RTM3000 integrierten Generator über das R&S Menu] und erzeugen Sie ein Rechtecksignal mit einer Frequenz von 10 MHz. Die niedrigste Spannung soll 0V und die höchste Spannung sollen 5V sein. Stellen Sie den zeitlichen Verlauf des Signals auf dem Oszilloskop über Kanal 1 dar.

Messung Verzögerungszeit 74HC00

Die Schaltung 74HC00 enthält insgesamt 4 NAND Gatter. Es soll nicht die Verzögerungszeit eines einzelnen Gatters, sondern die Gesamtverzögerungszeit einer Kettenschaltung von vier NAND Gattern gemessen werden. Die Gatter sind als Inverter geschaltet.

Einfluss der Betriebsspannung

Versuchsbericht

Dokumentieren Sie Ihre Ergebnisse in einem Untersuchungsbericht und laden Sie den Bericht in Moodle als pdf hoch.

Inhalt des Berichts

Der Bericht soll für andere nachvollziehbar die Messungen dokumentieren. Für die Verzögerungszeiten müssen Sie dazu vom Oszilloskop ein Bildschirmfoto runterladen und in den Bericht als Abbildung integrieren. Der Bericht soll nur einen Teil der Messungen enthalten. Beschreiben Sie die Ergebnisse der folgenden zwei Messungen

Neben den beiden Messungen müssen Sie den Messaufbau mit Skizzen und Fotos dokumentieren. Es soll später ersichtlich sein

Vergleichen Sie im Bericht die gemessenen Werte mit den Werten aus dem Datenblatt.

Form des Berichts

Der Bericht muss folgende formale Elemente enthalten

Die formalen Elemente finden Sie als Beispiel in Maschine.